机译:通过深宽比捕获在硅外延上的GaAs:分析和减少沿沟槽方向传播的缺陷
机译:使用选择性长宽比捕获技术降低Si(001)上GaAs外延的缺陷
机译:通过深宽比捕获减少GaAs / Si外延的缺陷
机译:通过选择性深宽比陷阱两步降低GaAs / Si外延
机译:低温分子束外延GaAs的生长和缺陷表征。
机译:分子束外延在低温下生长的n型GaAsBi合金的深层缺陷及其对光学性能的影响
机译:高指标GaAs基材化学梁外延生长的GaAsn缺陷分析
机译:重掺杂mBE(分子束外延)-Gaas的缺陷分析